鑄鐵平臺(tái)的干涉測(cè)量
鑄鐵平臺(tái)作為機(jī)床工作臺(tái),需要很高的精度這是眾所周知的,目前的鑄鐵平臺(tái)可分為1-3級(jí),其中鑄鐵平臺(tái)的表面平整度是鑄鐵平臺(tái)級(jí)別高低的決定性因素之一,為提高鑄鐵平臺(tái)產(chǎn)品的表面平整度我公司將在2013年后一季度采用干涉測(cè)量法對(duì)鑄鐵平臺(tái)的平整度進(jìn)行測(cè)量,此方法將代替以前采用的紅丹粉涂抹測(cè)量法。
干涉測(cè)量法是使用使用干涉測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)量的,干涉測(cè)量?jī)x則采用光的的干涉原理對(duì)鑄鐵平臺(tái)進(jìn)行檢測(cè)的,比如鑄鐵平臺(tái)下平面是往下凹的, 與平整的平面相對(duì)比,在同一位置射入的光線,兩條反射光的距離差必然, 根據(jù)距離差是半波長(zhǎng)的奇數(shù)倍對(duì)應(yīng)的才是暗條紋條紋,所以這樣一來(lái)同一條暗條紋的位置必然左移,所以所成的圖像必然也是向右左偏移的 如果是凸的,就恰恰相反成像則向右偏移。
干涉測(cè)量法將大大提高鑄鐵平臺(tái)的檢測(cè)度,因此鑄鐵平臺(tái)的精度也會(huì)有所提高。